NILTD-SOC Test Equipment

高性能、低成本的SoC测试解决方案，为当今复杂消费设备的大批量制造而优化。

先进的技术，功能丰富;

模拟模块提供广泛的覆盖范围;



NILTD测试系统通过以下方式响应数字消费市场对产品多功能性和复杂功能性日益增长的需求：


同时测试多个频域的多时域功能

1GDM/1.6GDM通过高并行测试实现了低测试成本

电源模块通过高密度安装支持64通道设备电源

模拟模块（AAWGD，BBWGD）提供全规格测试，提供从高性能音频到视频和基带的覆盖

高速模拟采集模块，包括宽频率和高速采样模拟测试

光谱模块能够处理包括ADC/DAC线性度在内的宽光谱精密测试

音视频模块实现了从高规格音频到视频的全规格测试

高速模拟采集模块对应于高速接口设备测试

结合新开发的测试模块和LSMF，NILTD为快速增长的消费类设备提供了优化的测试解决方案。



NILTD无线测试解决方案

下一代无线通信系统解决方案



ATE行业一个完全集成的单模块“WLS32-A（12GWSGA）”，配有4个独特的射频矢量信号发生器和分析仪

高性能VSG和VSA仪器，支持高达80MHz带宽的复杂调制密度

通过快速设置合成器切换实现快速测试时间

较高的行业射频端口密度（每个模块32个，可扩展到128个），适用于当今和未来的多DUT MIMO和收发器应用（WLS32-A）

对于低成本小型系统，射频端口密度为一半（WLS16-A）

高速和高载频噪声比合成器模式，以解决生产和特性化解决方案

集成低噪声，低抖动可编程参考信号发生器晶体（TCXO）基准

内部高线性2音合路器，可向设备输出>+28dBm（@2.2GHz，-12dBm）输出IP3

采用Quad DUT本机能力实现最低COT（并行源和测量）